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Cursos e treinamentos para empresas

Informações gerais

Como meio de divulgar nossos conhecimentos além do universo acadêmico, contribuindo com o constante crescimento das relações empresa-universidade, oferecemos cursos e treinamentos para as empresas que já se beneficiam de caracterizações de microscopia ou que pretendem conhecer as técnicas com maiores detalhes para aplicá-las de forma útil e produtiva aos seus problemas. Os cursos podem ser moldados para as necessidades especiais de cada empresa, em termos de conteúdo, horário e duração. Dessa forma, se a necessidade for por um curso introdutório sobre Microscopia de Tunelamento, preparamos o conteúdo de acordo com o tipo de análises de interesse da empresa e de acordo com a formação do profissional que se beneficiará do curso.

Para mais informações escreva para lff@if.usp.br ou entre em contato pelo telefone 11 3091 6857 (Profa. Dra. Maria Cecília Salvadori)



Curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento - PGF5205



Informações gerais


Objetivos do curso: Introduzir alunos de pós-graduação na técnica experimental de Microscopia de Força Atômica,
Tunelamento e Força Magnética.

Carga Horária: Aulas teóricas de 2h por semana/Aulas de laboratório de 2h por semana.

Pré-requisitos: Graduação na área de exatas ou biomédicas.

Critério de Avaliação: Prova, relatórios e seminários.

Número máximo de alunos:12


Para saber um pouco mais sobre este tipo de microscopia, clicar em SPM.

Para visualizar algumas imagens geradas pelas diversas modalidades do microscópio, clicar em Galeria de Imagens

Para mais informações sobre o curso: https://sistemas.usp.br/fenixweb/fexDisciplina?sgldis=PGF5205


Bibliografia do Curso


  1. S.H. Cohen, M.T. Bray, M.L. Lightbody - "Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy". Plenum Press (1994)

  2. R. Wiesendanger - "Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy". Cambridge University Press (1994)

  3. Yves Martin, B.J. Thompson - "Selected Papers on Scanning Probe Microscopy Design and Applications". SPIE Optical Engineering Press (1995).

  4. R.J. Colton, A. Engel, J.E. Frommer, H.E. Gaub, A.A. Gewirth, R. Guckenberger, J. Rabe, W.M. Heckl, B. Parkinson - "Procedures in Scanning Probe Microscopies". John Wiley & Sons (1998).

  5. C.J.Chen - "Introduction to Scanning Tunneling Microscopy". Oxford University Press (1993).

  6. C. Bai - "Scanning Tunneling Microscopy and Its Applications". Springer (2000).


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